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美国International Light ILT2400+XSD340B 辐照计/照度计探头参数：
ILT XSD系列光刻胶辐照度探头
ILT2400+XSD140A：量程4e-8 to 0.7 W/cm2，响应波段320-475 nm，校准于405nm波长
ILT2400+XSD340A：量程8e-7 to 10 W/cm2，响应波段320-475 nm，校准于405nm波长
ILT2400+XSD140B：量程7e-8 to 1 W/cm2，光谱范围326-401 nm，*心波长365nm
ILT2400+XSD340B：量程3e-6 to 30W/cm2 高强度，测量光谱326-401 nm，校准于365nm
美国International Light Photoresist光阻剂曝光辐照度测光表探头选型
辐照计/探头组合 | 响应波长频谱 | 测量范围 | 类型及应用 |
ILT5000, SED033/A/W | 320-475 nm | 2e-9 ~ 2 W/cm² | 台式，Photoresist光刻胶/光阻材料，
PCB板曝光系统，UVA光源，UV-Vis光源 |
ILT2400, SED033/A/W | 320-475 nm | 2e-7 ~ 2 W/cm² | 手持式，Photoresist光刻胶/光阻剂，同上 |
ILT1000/A/W | 320-475 nm | 2e-7 ~ 2 W/cm² | 手持式，Photoresist光刻/光阻剂，
PCB板曝光系统，UVA光源，UV-Vis光源 |
ILT1700, SED033/A/W | 320-475 nm | 7e-9 ~ 4 W/cm² | 台式，Photoresist光刻/光阻剂，同上 |
ILT2400, XSD140A | 320-475 nm | 4e-8 ~ 0.7 W/cm² | 手持式，Photoresist光刻/光阻剂，
PCB板曝光系统，UVA光源，UV-Vis光源 |
ILT2400, XSD340A | 320-475 nm | 8e-7 ~ 10 W/cm² | 同上，大功率高强度辐照探头 |
ILT5000, SED033/B/W | 326-401 nm | 3e-10 ~ 0.2 W/cm² | 台式，Photoresist光刻/光阻剂，
PCB板曝光系统，UVA光源，UV-Vis光源 |
ILT2400, SED033/B/W | 326-401 nm | 2e-8 ~ 0.2 W/cm² | 手持式，同上 |
ILT1700, SED033/B/W | 326-401 nm | 5e-9 ~ 0.5 W/cm² | 台式，同上 |
ILT1000/B/W | 326-401 nm | 2e-7 ~ 2 W/cm² | 手持式，同上 |
ILT2400, XSD140B | 326-401 nm | 7e-8 ~ 1 W/cm² | 手持式，Photoresist光刻/光阻剂，
PCB板曝光系统，UVA光源，UV-Vis光源 |
ILT2400, XSD340B | 326-401 nm | 2e-6 ~ 30 W/cm² | 手持式，Photoresist光刻胶/光阻剂，高强度测量 |
ILT2400, SSD001 | 260-400 nm | 6e-6 ~ 0.9 W/cm² | 手持式，超薄传感器，
PCB板曝光系统，UVA光源，UV-Vis光源 |
另有UV固化测量系统ILT800传送带式紫外线固化设备曝光量测量，范围5e-3 ~ 40 W/cm2；LT2400+XSD340AT7 320-475 nm，校准于405nm*心波长，可测辐照强度范围高达60 W/cm²。ILT紫外杀菌测光系统ILT2400+SED254/QT，手持式，低可见度环境，高功率紫外线强度应用；ILT2400+SED185/NS185校准于185nm，臭氧/杀菌、光解废气、水处理行业。
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