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美国International Light ILT2400+XSD340B 辐照计/照度计

美国International Light ILT2400+XSD340B 辐照计/照度计

美国International Light ILT2400辐照计可自由配置光探测器、输入光学器件、过滤片和校准片,用于测量Watts瓦特, Lumens流明, Watt/cm2瓦特/平方厘米, lux勒克斯和foot-candles等光学参数。测量速度高达100μs,内置可充电电池持续长达8小时,4.3寸触摸屏显示,可横向和纵向观看,以手持价格研究质量
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美国International Light
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美国International Light ILT2400+XSD340B 辐照计/照度计产品简介:

美国ILT2400+XSD340B辐照计365nm波长高能量曝光测量

ILT2400辐照计以手持价格提供研究级质量,采用可分离探头设计,具有8个量级的动态测量范围,测量速度可达100μs,内置可充电电池持续长达8小时,4.3寸触摸屏显示,可横向和纵向查看读数或图形曲线。XSD340B探头响应波段326-401 nm,校准于365nm波长,可测量3e-6 W/cm2至30W/cm2光源辐照强度。ILT测光表和探测器均带NIST可溯源ISO17025认证校准报告。

国际光学International Light ILT2400和XSD340B光刻胶测量系统用于326-401nm波段紫外线辐照度监测,校准于365nm光阻剂作用光谱,精确地知道光致抗蚀剂曝光的程度,可测量高达30W/cm2 高能量强度,用于PCB印刷电路板光及半导体业。


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仪器参数Parameter
我们会努力按照原厂技术参数翻译编辑,如技术参数中英文有差异,以英文参数为准。

美国International Light ILT2400+XSD340B 辐照计/照度计探头参数:

ILT XSD系列光刻胶辐照度探头

ILT2400+XSD140A:量程4e-8 to 0.7 W/cm2,响应波段320-475 nm,校准于405nm波长

ILT2400+XSD340A:量程8e-7 to 10 W/cm2,响应波段320-475 nm,校准于405nm波长

ILT2400+XSD140B:量程7e-8 to 1 W/cm2,光谱范围326-401 nm,中心波长365nm

ILT2400+XSD340B:量程3e-6 to 30W/cm2 高强度,测量光谱326-401 nm,校准于365nm

美国International Light Photoresist光阻剂曝光辐照度测光表探头选型

辐照计/探头组合

响应波长频谱

测量范围

类型及应用

ILT5000, SED033/A/W

320-475 nm

2e-9 ~ 2 W/cm²

台式,Photoresist光刻胶/光阻材料,
PCB板曝光系统,UVA光源,UV-Vis光源

ILT2400, SED033/A/W

320-475 nm

2e-7 ~ 2 W/cm²

手持式,Photoresist光刻胶/光阻剂,同上

ILT1000/A/W

320-475 nm

2e-7 ~ 2 W/cm²

手持式,Photoresist光刻/光阻剂,
PCB板曝光系统,UVA光源,UV-Vis光源

ILT1700, SED033/A/W

320-475 nm

7e-9 ~ 4 W/cm²

台式,Photoresist光刻/光阻剂,同上

ILT2400, XSD140A

320-475 nm

4e-8 ~ 0.7 W/cm²

手持式,Photoresist光刻/光阻剂,
PCB板曝光系统,UVA光源,UV-Vis光源

ILT2400, XSD340A

320-475 nm

8e-7 ~ 10 W/cm²

同上,大功率高强度辐照探头

ILT5000, SED033/B/W

326-401 nm

3e-10 ~ 0.2 W/cm²

台式,Photoresist光刻/光阻剂,
PCB板曝光系统,UVA光源,UV-Vis光源

ILT2400, SED033/B/W

326-401 nm

2e-8 ~ 0.2 W/cm²

手持式,同上

ILT1700, SED033/B/W

326-401 nm

5e-9 ~ 0.5 W/cm²

台式,同上

ILT1000/B/W

326-401 nm

2e-7 ~ 2 W/cm²

手持式,同上

ILT2400, XSD140B

326-401 nm

7e-8 ~ 1 W/cm²

手持式,Photoresist光刻/光阻剂,
PCB板曝光系统,UVA光源,UV-Vis光源

ILT2400, XSD340B

326-401 nm

2e-6 ~ 30 W/cm²

手持式,Photoresist光刻胶/光阻剂,高强度测量

ILT2400, SSD001

260-400 nm

6e-6 ~ 0.9 W/cm²

手持式,超薄传感器,
PCB板曝光系统,UVA光源,UV-Vis光源

 另有UV固化测量系统ILT800传送带式紫外线固化设备曝光量测量,范围5e-3 ~ 40 W/cm2;LT2400+XSD340AT7 320-475 nm,校准于405nm中心波长,可测辐照强度范围高达60 W/cm²。ILT紫外杀菌测光系统ILT2400+SED254/QT,手持式,低可见度环境,高功率紫外线强度应用;ILT2400+SED185/NS185校准于185nm,臭氧/杀菌、光解废气、水处理行业。


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电话:400 901 1718
联系人:班新娟