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美国International Light ILT2400+XSD340B 辐照计/照度计

美国International Light ILT2400+XSD340B 辐照计/照度计

美国International Light ILT2400辐照计可自由配置光探测器、输入光学器件、过滤片和校准片,用于测量Watts瓦特, Lumens流明, Watt/cm2瓦特/平方厘米, lux勒克斯和foot-candles等光学参数。测量速度高达100μs,内置可充电电池持续长达8小时,4.3寸触摸屏显示,可横向和纵向观看,以手持价格研究质量
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美国International Light ILT2400+XSD340B 辐照计/照度计产品简介:

美国ILT2400+XSD340B辐照计365nm波长高能量曝光测量

ILT2400辐照计以手持价格提供研究级质量,采用可分离探头设计,具有8个量级的动态测量范围,测量速度可达100μs,内置可充电电池持续长达8小时,4.3寸触摸屏显示,可横向和纵向查看读数或图形曲线。XSD340B探头响应波段326-401 nm,校准于365nm波长,可测量3e-6 W/cm2至30W/cm2光源辐照强度。ILT测光表和探测器均带NIST可溯源ISO17025认证校准报告。

国际光学International Light ILT2400和XSD340B光刻胶测量系统用于326-401nm波段紫外线辐照度监测,校准于365nm光阻剂作用光谱,精确地知道光致抗蚀剂曝光的程度,可测量高达30W/cm2 高能量强度,用于PCB印刷电路板光及半导体业。


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