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SFP-QV表面尘埃粒子计数器

SFP-QV表面尘埃粒子计数器

Surface Particle QV 表面尘埃粒子计数器用于测量各种高洁净度要求的产品,光学镜片组件、液晶面板及超净微环境受控的半导体机台等表面所附着的尘埃粒子的粒径大小及单位面积内的数量。
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Surface Particle QV 表面尘埃粒子计数器用于测量各种高洁净度要求的产品,光学镜片组件、液晶面板及超净微环境受控的半导体机台等表面所附着的尘埃粒子的粒径大小及单位面积内的数量。


SFP-QV表面尘埃粒子计数器产品简介:

Surface Particle QV 表面尘埃粒子计数器用于测量各种高洁净度要求的产品,光学镜片组件、液晶面板及超净微环境受控的半导体机台等表面所附着的尘埃粒子的粒径大小及单位面积内的数量。

核心零部件(光学传感器)及控制器等采用美国莱特浩斯所生产的组件来保证该产品的测量精度。

外壳采用SUS316L不锈钢制作,并经表面钝化处理。彩色触摸液晶屏显示操作,检测光学传感器采用美国进口整机,

吸气的气泵为旋片式进口气泵,并可通过流量传感器来自动调节气泵的运行流量,使其保持在一个稳定的检测流量范围内,

表面测试探头根据德国同类产品进行改良优良,并配有防静电软管与主机连接,其于用排气及吸气过滤的囊式过滤器。内部滤材为德国进口,从而保证仪器的检测精度及运行稳定性。


表面粒子计数器由三部分组成:

扫描取样头:取样的同时可以提供一定压力的吹扫气流,可以集成操作控制器;

激光尘埃粒子计数器主机:主要由气泵、传感器、主控板、过滤器以及电池组成;

连接主机与扫描采样头的管道:包括取样管道与吹扫管道。


如需了解更多 SFP-QV表面尘埃粒子计数器 原理、使用方法、操作视频、技术参数、说明书文档,请联系51仪器仪表网工作人员。
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