美国梅特勒-托利多 MS半微量分析天平采用单模块传感器(MonoBloc),具有显著的抗冲击、抗过载性能,
同时确保准确的称量结果。
美国梅特勒-托利多 MS半微量分析天平产品特点:
采用单模块传感器(MonoBloc),具有显著的抗冲击、抗过载性能,同时确保准确的称量结果
采用280MIPS处理器及72MHz总线速度,确保快速获得称量结果
清晰的高对比显示屏(HCD),轻松读取称量结果
动态图形显示(SmartTrac),直接显示天平已使用的称量范围
多达3个功能键(SmartKeys),可直接调用预设的称量应用程序
超大去皮键设计,便于用户的称量操作
1/10d可读性缩位功能,快速获得稳定称量结果
菜单保护功能,避免天平设置被更改
全自动校准技术(FACT),温度漂移和时间触发确保始终获得准确的称量结果
多级数字滤波和补偿技术,优化天平在不同称量条件下的操作性能
动态温度补偿,实时修正环境温度波动对称量结果的影响
易于使用的天平自维护功能,例如:键盘测试、重复性测试等